Prof. Dr.-Ing. Michael Freitag
Publikationen
Publications
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Referierte Publikationen |
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Artikel in Zeitschriften (referiert) [10] |
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| [Wei16] | Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.; Shpitalni, M.: Design of deep convolutional neural network architectures for automated feature extraction in industrial inspection. In: CIRP Annals - Manufacturing Technology, 65(2016)1, pp. 417420 |
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| [Sta15] |
Staar, B.; Lütjen, M.: Qualitätsprüfung im Mikrobereich - Vorstellung einer Lösung zur automatisierten Messung von Mikrobauteilen. In: Industrie Management, 31(2015)6, S. 28-31
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| [Wei14d] | Weimer, D.; Huferath-v. Lüpke, S.; Tausendfreund, A.; Bergmann, R.B.; Goch, G.; Scholz-Reiter, B.: Dimensional In Situ Shape and Surface Inspection of Metallic Micro Components in Micro Bulk Manufacturing. In: Advanced Materials Research, 1018(2014)0, pp. 493-500 |
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| [Wei13a] | Weimer, D.; Thamer, H.; Scholz-Reiter, B.: Automatische Registrierung simulierter 3D Sensordaten komplexer Mikrobauteile. In: Industrie Management, 29(2013)2, S. 49-52 |
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| [Lüt12d] |
Lütjen, M.; Rippel, D.; Weimer, D.; Gandecki, S.; Kleefeld, S.: Herausforderungen der Mikrohandhabung. In: Industrie Management, 28(2012)6, S. 51-54 (auch Projekt: SFB747 - C4)
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| [Scho12j] | Scholz-Reiter, B.; Weimer, D.; Thamer, H.: Automated Surface Inspection of Cold Formed Micro Parts. In: CIRP Annals 2012 - Manufacturing Technology, Annals of the International Academy for Production Engineering, 61(2012)1, pp. 531-534 |
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| [Wei12] |
Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.: Präzise Detektion von Oberflächenfehlern im Mikrobereich. In: Industrie Management, 28(2012)5, S. 61-64
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| [Scho10k] |
Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Lübke, K.; Thamer, H.; Hildebrandt, T.: Klassifikation von Oberflächenunvollkommenheiten in der Mikrokaltumformung. In: ZWF - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb, 105(2010)1, S. 42-46
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| [Scho10l] | Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Lappe, D.; Thamer, H.; Brenner, N.: Logistische Qualitätslenkung in der Mikrokaltumformung - Einsatz von Fuzzy-Regelung zur Optimierung von Stichprobenintervallen. In: Industrie Management, 26(2010)4, S. 13-16 |
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| [Scho10ay] |
Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Oberflächenprüfung von Mikrobauteilen. In: Industrie Management, 26(2010)3, S. 43-46
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Konferenzbeiträge (referiert) [12] |
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| [Ago18] | Agour, M.; Falldorf, C.; Staar, B.; von Freyberg, A.; Fischer, A.; Lütjen, M.; Bergmann, R.B.: Fast Quality Inspection of Micro Cold Formed Parts using Telecentric Digital Holographic Microscopy. In: 5th International Conference on New Forming Technology (ICNFT 2018). EDP Sciences, Paris, France, 2018, pp. 8 |
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| [Sta18] | Staar B.; Lütjen M.; Freitag M.: Anomaly Detection with Convolutional Neural Networks for Industrial Surface Inspection. In: 12th CIRP Conference on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering - CIRP ICME \\\\\\\'18. Elsevier B.V, Amsterdam, NL, 2018, pp. 484-489 |
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| [Sta17a] |
Staar, B.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Präzise Oberflächendefekterkennung in Mikrobauteilen mit neuronalen Netzen. In: Vollertsen F.; Hopmann C.; Schulze V.; Wulfsberg J. (Hrsg.): 8. Kolloquium Mikroproduktion. BIAS Verlag, Bremen, 2017, S. 11-16
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| [Sta16b] | Staar, B.; Flosky, H.; Lütjen, M.: Fast and Reliable Quality Inspection of Micro Parts. In: Dimitrov D.; Oosthuizen T. (eds.): Proceedings of the International Conference on Competitive Manufacturing. Global Competitiveness Centre in Engineering; Stellenbosch University, Stellenbosch, ZA, 2016, pp. 237-242 |
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| [Sta16] |
Staar, B.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Real-time Anomaly Detection Along the Outer Walls of Circular Objects (WIP). In: de Rango, Floriano; Marn, José Luis Risco ; DAmbrogio, Andrea; Nicolescu, Gabriela (eds.): Proceedings of Summer Computer Simulation Conference (SCSC). Society for Modeling and Simulation International, Vista, CA, USA, 2016, pp. 461-467
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| [Rip15] |
Rippel, D.; Hildebrandt, T.; Staar, B.; Weimer, D.; Lütjen, M.: Prognosebasierte Bestimmung von Wartungszeitpunkten für die Mikrofertigung. In: Hopmann, Ch.; Brecher, Ch.; Dietzel, A.; Drummer, D.; Hanemann, T.; Manke, E.; Schomburg, W. K.; Schulze, V. ; Vollertsen, F. ; Wulfsberg, J.-P. (Hrsg.): 7. Kolloquium Mikroproduktion in Aachen. Institut für Kunststoffverarbeitung (IKV), Aachen, 2015, S. 87-93 (auch Projekt: SFB747 - C4)
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| [Wei14] | Weimer, D.; Thamer, H.; Fellmann, C.; Lütjen, M.; Thoben, K.D.; Scholz-Reiter, B.: Towards 100% in-situ 2D/3D quality inspection of metallic micro components using plenoptic cameras. In: Procedia CIRP. CIRP, Paris, 2014, pp. 847-852 |
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| [Wei14a] | Weimer, D.; Rippel, D.; Hildebrandt, T.; Lütjen, M.; Scholz-Reiter, B.: A Strategy for Logistic Quality Control in Micro Bulk Production. In: Denkena, B.; Duffie, N.; Vollertsen, F. (eds.): Procedia Technology. New Challenges for Product and Production Engineering, Procedia CIRP, Paris, 2014, pp. 323 - 332 (also project: SFB747 - C4) |
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| [Wei14c] |
Weimer, D.; Huferath-von Luepke, S.; Falldorf, C.; Lütjen, M.; Kreis, Th.; von Freyberg, A.; Bergmann, R.B.; Goch, G.; Scholz-Reiter, B.: A Comparison of in-situ Measuring Systems within Micro Cold Forming. In: Proceedings of the International Conference on Nanomanufacturing. Procedia, Bremen, 2014, pp. 1-6
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| [Pio13] |
Piotrowska-Kurczewski, I. ; Schlasche, J.W. ; Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.; Maass, P.: Image Denoising and Quality Inspection of Micro Components Using Perona-Malik Diffusion. In: Procedia CIRP (Conference on Modeling of Machining Operations (CIRP CMMO)). CIRP, Paris, 2013, pp. 431 - 436
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| [Wei13] | Weimer, D.; Thamer, H.; Scholz-Reiter, B.: Learning Defect Classifiers for Textured Surfaces Using Neural Networks and Statistical Feature Representations. In: Proceedings of the CIRP Conference on Manufacturing Systems (CMS). Elservier, London, 2013, pp. 347-352 |
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| [Scho12g] |
Scholz-Reiter, B.; Rippel, D.; Weimer, D.; Jacobi, J.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Process Design for Automated Surface Inspection in Micro Cold Forming. In: Proceedings of the 8th International Workshop on Microfactories. University of Tampere, Tampere, 2012, pp. 1-7 (also project: SFB747 - C4)
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Beiträge zu Sammelbänden (auch in Schriftenreihen) (referiert) [3] |
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| [Ago20] | Agour, M.; von Freyberg, A.; Staar, B.; Falldorf, C.; Fischer, A.; Lütjen, M.; Freitag, M.; Goch, G.; Bergman, R.B.: Quality inspection and logistic quality assurance of micro technical manufacturing processes. In: Cold Micro Metal Forming, Lecture Notes in Production Engineering. Springer, Cham, 2020, pp. 245-274 |
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| [Scho13i] |
Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Weimer, D.; Rippel, D.; Thamer, H.: Quality-oriented Design of Process Chains. In: Vollertsen, F. (eds.): Micro Metal Forming, Lecture Notes in Production Engineering. Springer, Berlin, 2013, pp. 415-430 (also project: SFB747 - C4)
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| [Scho10aw] | Scholz-Reiter, B.; Thamer, H.; Lütjen, M.: Automated Surface Inspection of Micro Parts. In: Ao, S.-I.; Katagiri, H.; Xu, L.; Chan, A.H.-S. (eds.): IAENG Transactions on Engineering Technologies Volume 5. American Institute of Physics, New York, 2010, pp. 301-315 |
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Nicht-referierte Publikationen |
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Artikel in Zeitschriften (nicht referiert) [2] |
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| [Sta16a] |
Staar, B.; Flosky, H.; Lütjen, M.; Freitag, M.: Automatische Qualitätsinspektion von Mikronäpfen. In: productivity, 21(2016)4, S. 57-60
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| [Scho10i] |
Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.: Towards Automated Visual Inspection and Classification of Micro-Parts. In: WSEAS Transactions on Applied and Theoretical Mechanics, 5(2010)1, S. 112-121
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Weitere Informationen
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Konferenzbeiträge (nicht referiert) [4] |
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| [Wei15a] | Weimer, D.; Benggolo, A.; Freitag, M.: Context-aware Deep Convolutional Neural Networks for Industrial Inspection. In: Leitner, J. ; Cherian, A.; Shirazi, S. (eds.): Australasian Joint Conference on Artificial Intelligence. Deep Learning and its Applications in Vision and Robotics (Workshop), Queensland University of Technology, Queensland, Australia, 2015, pp. 4 |
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| [Tha13f] | Thamer, H.; Weimer, D.; Scholz-Reiter, B.: A Test Environment for Feature-Based Range Data Registration. In: Recent Advances in Computer Science and Applications. WSEAS Press, Valencia, 2013, pp. 126-131 |
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| [Scho11w] |
Scholz-Reiter, B.; Thamer, H.; Lütjen, M.: Optical Quality Assurance in Micro Production. In: Proceedings of the International MultiConference of Engineers and Computer Scientists 2010 Vol III. Newswood Limited - International Association of Engineers, Hong Kong, CN, 2011, pp. 1521-1525
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Weitere Informationen
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| [Scho09f] |
Scholz-Reiter, B.; Lütjen, M.; Thamer, H.; Dickmann, D.: Towards Machine Vision based Surface Inspection of Micro-Parts. In: 5th WSEAS International Conference on Applied and Theoretical Mechanics (MECHANICS 09). WSEAS Press, Athens, GR, 2009, pp. 97-102
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